HAST試驗箱的關鍵應用

HAST試驗箱通過模擬高溫、高濕、高壓環境，可以快速加速測試樣品的老化過程，幫助制造商發現并解決潛在的產品設計問題，如材料老化、腐蝕、絕緣電阻下降等。這有助于提高產品的可靠性和耐久性，從而確保長期的穩定運行。

主要特點和組成

- 高溫高壓腔室：用于模擬極端溫度和壓力條件。

- 濕度控制系統：精確控制測試環境的濕度。

- 數據記錄系統：實時記錄測試過程中的數據變化。

絕緣電阻劣化(離子遷移）測試體統

與離子遷移測試系統配套使用的HAST試驗箱，可以進一步評估絕緣電阻劣化問題。通過偏壓測試、漏電流測試、擊穿電壓測試等，可以評估器件在極端環境下的性能和壽命。

環境模擬與電性能測試

HAST試驗箱不僅限于環境模擬試驗，還可以進行如caf測試、emc測試等電性能測試，確保產品在各種條件下的穩定性和安全性。

HAST試驗箱是電子產品制造商進行高加速應力測試和老化測試的重要工具。它通過模擬嚴酷的環境條件，幫助制造商識別并解決產品設計的潛在問題，從而提高產品的可靠性和耐久性。通過配套離子遷移測試系統，HAST試驗箱還能評估絕緣電阻劣化，確保電子器件在各種條件下的穩定運行。

部分試驗條件

試驗條件	試驗時間(小時)	備注
85℃,85%	24,48,96,192,408,500,1000	推薦半導體、PCB和光伏產品采用 此標準
110℃,85%	24,48,96,192,408,500,1000	推薦半導體塑封芯片采用此標準
120℃,85%	24,48,96,192,408,500,1000	推薦半導體塑封芯片采用此標準
130℃,85%	24,48,96,192,408,500,1000	推薦半導體塑封芯片采用此標準

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